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防水卷材测厚仪使用说明书

发布日期:2011-05-19

HD-10防水卷材测厚仪是上海雷韵试验仪器制造有限公司自行研发的新一代符合GB18242-2000及GB18243-2000标准要求专为防水卷材厚度测量而设计制造.可随身携带,手持测量.


防水卷材测厚仪主要技术参数

1.测量泛围:0-10mm 

2.上测直径: 10±0.05 mm 

3.分度值:0.01 mm 

4.施加压力:0.02Mpa

防水卷材测厚仪镀层测厚仪对材料表面保护、装饰形成的覆盖层进行厚度测量的仪器,测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等(在有关国家和国际标准中称为覆层(coating))。覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环,是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度有了明确的要求。

涂镀层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型:

1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量.导磁材料一般为:钢\\\\铁\\\\银\\\\镍.此种方法测量精度高

2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量.此种方法较磁性测厚法精度低

3.超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵\\\\测量精度也不高.

4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层.一般精度也不高.测量起来较其他几种麻烦

5.放射测厚法:此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些特殊场合.

国内目前使用最为普遍的是第1,2两种方法。

镀层测厚仪镀层测厚仪涂镀层测厚仪

覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。

防水卷材测厚仪X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用最广泛的测厚仪器。

防水卷材测厚仪采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,能使大量的检测工作经济地进行。

1.影响因素的有关说明

a 基体金属磁性质

磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。

b 基体金属电性质

基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

c 基体金属厚度

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。

d 边缘效应

本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

e 曲率

试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

f 试件的变形

测头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上测出可靠的数据。

g 表面粗糙度

基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大,影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差,每次测量时,在不同位置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙,还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后,再校对仪器的零点。

g 磁场

周围各种电气设备所产生的强磁场,会严重地干扰磁性法测厚工作。

h 附着物质

本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感,因此,必须清除附着物质,以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。

i 测头压力

测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数,因此,要保持压力恒定。

j 测头的取向

测头的放置方式对测量有影响。在测量中,应当使测头与试样表面保持垂直。

2.使用仪器时应当遵守的规定

a 基体金属特性

对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。

对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。

b 基体金属厚度

检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,可采用3.3中的某种方法进行校准。

c 边缘效应

不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。

d 曲率

不应在试件的弯曲表面上测量。

e 读数次数

通常由于仪器的每次读数并不完全相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。

f 表面清洁度

测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物

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